بخش 6.2.page-24.5
بند 5، صفحه 24
همچنین از سایر روشهای تجزیه و تحلیل میتوان استفاده کرد که شامل طیف سنجی جرمی یون ثانویه (SIMS)⁴ و یا اوژر⁵ و طیف نگاری فوتوالکترون پرتو X (XPS)⁶ است که اطلاعات جزئی در مورد ساختار شیمیایی با میزان تفکیک پذیری در عمق چند نانومتری را ارائه میدهد.
گفتوگوی عمومی انجمن درباره بخش 6.2.page-24.5
نظر شما درباره این بند با نام شما در انجمن عمومی منتشر میشود و دیگران میتوانند آن را بخوانند و پاسخ بدهند.