رفتن به محتوای اصلی
خانهکتابخانهدستیارهمکارانتعرفه‌ها

منوی کدکاو

دسترسی به همه‌ی بخش‌ها
خانه
کتابخانه
انجمن
دستیار
ابزارک‌ها
همکاران
میز کار
پروژه‌ها
قراردادها
کارفضاها و اتاق‌ها
منابع
تعرفه‌ها
پشتیبانی
بات تلگرام
ورود / عضویت
کدکاو

همراه حرفه‌ای شما در صنعت ساختمان؛ از مقررات و دانش مهندسی تا دستیار هوشمند و کار تیمی.

دستیار کدکاو در تلگرام

خدمات کدکاو

  • کتابخانه مقررات
  • دستیار هوشمند
  • میز کار
  • ابزارها و محاسبات
  • پروژه‌ها

جامعه

  • انجمن
  • شبکه همکاران
  • شرکت‌های دانش‌بنیان
  • رویدادها

راهنما و پشتیبانی

  • مرکز پشتیبانی
  • وبلاگ
  • پایگاه دانش
  • راهنمای استفاده
  • پرسش‌های متداول

کدکاو

  • درباره‌ی ما
  • تعرفه‌ها
  • فرصت‌های شغلی
  • تماس با ما

امکانات آینده

به‌زودی
  • تحلیل تصویر
  • تحلیل نقشه
  • گزارش‌نویسی هوشمند

معرفی خدمات

  • ویجت‌ها و قالب‌ها
  • ابزارهای سفارشی
  • محتوای فنی
© کدکاو؛ تمام حقوق محفوظ است.
شرایط استفادهحریم خصوصی
  • خانه
  • کتابخانه
  • میز کار
  • دستیار

بخش 6.2.page-24

مشاهده در کتابخانه

صفحه 24

بند 1، صفحه 24

استفاده از میکروسکوپ‌های نوری برای بررسی شکل کلی آسیب مفید است، اما کاربرد آن‌ها به‌علت حد تفکیک‌پذیری نوری محدود است.

بند 2، صفحه 24

میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مکرراً مورد استفاده قرار می‌گیرد و با تفکیک‌پذیری کمتر از۱ nm یا تفکیک‌پذیری بهتر، از دستگاه‌های نشرمیدانی برای اکثر مقاصد مرتبط با آزمون‌های نانوتریبولوژی دارای تفکیک پذیری کافی است (به شکل۳ مراجعه شود). تصاویر SEM را هم چنین می‌توان با طیف سنجی پرتو X با پراکندگی انرژی (EDS)¹ مشاهده کرد که می‌تواند تجزیه و تحلیل شیمیایی عنصری با تفکیک پذیری تا حدود۰/۲ μm و یا با روش پراش الکترون برگشتی (EBSD)² ترکیب نمود که می‌تواند تجزیه و تحلیل پراش را ارائه دهد (اطلاعاتی در مورد ساختار بلوری و تغییر شکل).

بند 3، صفحه 24

میکروسکوپی الکترون عبوری (TEM)³ نیازمند آماده‌سازی نمونه‌های شفاف نسبت به عبور الکترون‌هاست، با این وجود اگر این شرایط فراهم شود، TEM اطلاعات بی‌نظیری را در مورد ساختار ماده با تفکیک‌پذیری نزدیک به ابعاد اتمی ارائه می‌دهد. بررسی تغییرات ساختار نمونه‌ها در زیر سطح حوزه تماس اهمیت ویژه‌ای دارد.

بند 4، صفحه 24

هم‌چنین غالباً AFM به منظور بررسی ناهمواری آسیب ایجاد شده به‌وسیله آزمون‌های نانوتریبولوژی کاربرد دارد و دارای تفکیک پذیری تا حدود مقیاس‌های اتمی است.

بند 5، صفحه 24

همچنین از سایر روش‌های تجزیه و تحلیل می‌توان استفاده کرد که شامل طیف سنجی جرمی یون ثانویه (SIMS)⁴ و یا اوژر⁵ و طیف نگاری فوتوالکترون پرتو X (XPS)⁶ است که اطلاعات جزئی در مورد ساختار شیمیایی با میزان تفکیک پذیری در عمق چند نانومتری را ارائه می‌دهد.

بند 6، صفحه 24

1- Energy dispersive spectrometry
2- Electron back-scattered diffraction
3- Transmission electron microscopy
4- Secondary ion mass spectrometry
5- Auger
6- X-ray photoelectron spectroscopy

بخش قبلی

بند 3، صفحه 23

بخش بعدی

بند 1، صفحه 24

گفت‌وگوی عمومی انجمن درباره بخش 6.2.page-24

نظر شما درباره این بند با نام شما در انجمن عمومی منتشر می‌شود و دیگران می‌توانند آن را بخوانند و پاسخ بدهند.

صفحه 24 | فناوری نانو-راهنمای روش هایی برای اندازه گیری نانو و میکروتریبولوژی (۱۳۹۳-۱۸۰۸۶)